X无损膜厚仪（金霖供应）

X无损膜厚仪（金霖供应）采用X-射线荧光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。结合了测量镀层厚度及物料分析双功能在一整体的设计，此仪器是采用能量散射X-射线萤光测量原理，符合来进行非破坏及不接触的测量，除了可以测量镀层厚度外，还可以计算合金中各种元素的含量。



X无损膜厚仪（金霖供应）在质量管理到不良品分析有着广泛的应用.用于电子元器件,半导体,PCB,汽车零部件,功能性电镀,装饰件,连接器等多个行业. 高性能、高精密、高分辨。实现了快速、精密、准确的X-射线测量仪器，世界首创光学准直器，可以同时测量多至4层的金属镀层的厚度和成分，测量厚度可以从埃（?）至微米（μm），它也能测量多至24个元素的块状合金成分，其准确度、精密度和稳定性是的。X无损膜厚仪（金霖供应）最适合用于微电子器件、数据偶合器、光通讯和数据贮存、半导体、光通讯、微电子、光子学、无源器件和薄层磁头金属化分析等。能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能优越,而且价钱超值.,分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任. 轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的.

X无损膜厚仪（金霖供应）产品特点：

★ X射线发生系统采用了聚光导管

由于采用了X射线聚光导管方式，可得到以往十倍以上的X射线强度，从而可以提高微小样品的膜厚测量及有害物质测量的精度。



★ 无需液氮的半导体检测器

在进行薄膜测量与有害物质的浓度测量时，高分辨率的检测器是必不可少的。SFT9500的检测器不但可以达到高分辨率，而且可以实现高计数率。同时，由于使用了电子冷却方式，所以无需液氮。



★ 能谱匹配软件

可瞬间识别未知样品与事先存档的X射线能谱库中哪一个样品较为接近的软件。对识别材料十分有效。



★ 块体检量线软件（适用于电镀液分析）

可简单地测量出电镀液中主要金属的浓度。



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